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Magnetoimpedância em multicamadas de Ni81Fe19/Cu com a corrente de sonda perpendicular ao plano do filme

dc.creatorCallegari, Gustavo Luiz
dc.date.accessioned2017-05-08
dc.date.available2017-05-08
dc.date.issued2006-06-02
dc.identifier.citationCALLEGARI, Gustavo Luiz. Magnetoimpedance in multilayers of Ni81Fe19/Cu with the chain of perpendicular sounding lead to the plan of film. 2006. 94 f. Dissertação (Mestrado em Física) - Universidade Federal de Santa Maria, Santa Maria, 2006.por
dc.identifier.urihttp://repositorio.ufsm.br/handle/1/9258
dc.description.abstractIn this work the behavior of the magnetoimpedance (MI) in ferromagnetic multilayered (Ni81Fe19/Cu) produced by magnetron sputtering was studied. In all measurements, the probe current was applied perpendicularly to the film surface. The MI measurements were performed in the frequency range 100kHz - 1.8GHz with an HP-4396B impedance analyzer and a specially designed sample holder. Magnetoimpedance ratios of 150% were obtained in some of the studied samples.eng
dc.description.sponsorshipCoordenação de Aperfeiçoamento de Pessoal de Nível Superior
dc.formatapplication/pdfpor
dc.languageporpor
dc.publisherUniversidade Federal de Santa Mariapor
dc.rightsAcesso Abertopor
dc.subjectMagnetoimpedânciapor
dc.subjectFilmes finospor
dc.subjectRessonância ferromagnéticapor
dc.subjectMagnetoimpedância perpendicularpor
dc.subjectMagnetoimpedanceeng
dc.subjectThin filmseng
dc.subjectFerromagnetic resonanceeng
dc.subjectMagnetron sputteringeng
dc.subjectPermalloyeng
dc.subjectPerpendicular magneoimpedanceeng
dc.titleMagnetoimpedância em multicamadas de Ni81Fe19/Cu com a corrente de sonda perpendicular ao plano do filmepor
dc.title.alternativeMagnetoimpedance in multilayers of Ni81Fe19/Cu with the chain of perpendicular sounding lead to the plan of filmeng
dc.typeDissertaçãopor
dc.description.resumoNeste trabalho foi estudado o comportamento da magnetoimpedância (MI) em amostras ferromagnéticas (Ni81Fe19) estruturadas em camadas intercaladas com metal normal (Cu) produzidas por magnetron sputtering com a corrente de sonda sendo aplicada perpendicularmente ao plano do filme. A faixa de freqüência usada neste trabalho foi de 100kHz a 1.8GHz num analisador de impedância modelo HP-4396B. Deste modo conseguiuse variações percentuais na MI da ordem de 150%.por
dc.contributor.advisor1Sommer, Rubem Luis
dc.contributor.advisor1Latteshttp://lattes.cnpq.br/7705036710106784por
dc.contributor.referee1Fraga, Gilberto Luiz Ferreira
dc.contributor.referee1Latteshttp://lattes.cnpq.br/2120996664549887por
dc.contributor.referee2Magalhães, Sergio Garcia
dc.contributor.referee2Latteshttp://lattes.cnpq.br/8564675492283232por
dc.creator.Latteshttp://lattes.cnpq.br/0060142565096097por
dc.publisher.countryBRpor
dc.publisher.departmentFísicapor
dc.publisher.initialsUFSMpor
dc.publisher.programPrograma de Pós-Graduação em Físicapor
dc.subject.cnpqCNPQ::CIENCIAS EXATAS E DA TERRA::FISICApor


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Dissertacao de Mestrado - Gustavo ...
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