Navegação TCC Física - Bacharelado por orientadores "Schelp, Luiz Fernando"
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Caracterização estrutural, morfológica e estequiométrica de filmes finos de óxidos de vanádio
(2010-12-10)A aplicação da difração de raios x a baixos ângulos para a determinação da morfologia de filmes finos é apresentada. Aspectos técnicos fundamentais que são relevantes para a extração dos dados da difração nesta faixa têm ...