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dc.contributor.advisorDorneles, Lucio Strazzabosco
dc.creatorAlmeida, Manoela Adams de
dc.date.accessioned2016-09-17T14:42:49Z
dc.date.available2016-09-17T14:42:49Z
dc.date.issued2011-12-09
dc.date.submitted2011
dc.identifier.urihttp://repositorio.ufsm.br/handle/1/2180
dc.descriptionTrabalho de conclusão de curso (graduação) - Universidade Federal de Santa Maria, Centro de Ciências Naturais e Exatas, Curso de Física, RS, 2011.por
dc.description.abstractThis work aims at a detailed investigation of the measurement technique used for the study of transport phenomena in structures with at least one dimension on the nanoscale, such as thin films (a nanometer scale) or granular (three nanometer dimensions).eng
dc.languageporpor
dc.publisherUniversidade Federal de Santa Mariapor
dc.rightsAcesso Abertopor
dc.subjectDispositivo altamente resistivopor
dc.subjectBaixíssima correntepor
dc.subjectEstrutura nanométricapor
dc.subjectHighly resistive deviceseng
dc.subjectVery low currenteng
dc.subjectNanoscale structureseng
dc.titleMedidas de transporte eletrônico empregando baixíssimas correntespor
dc.title.alternativeMeasures of eletronic transport employing lowest currentpor
dc.typeTrabalho de Conclusão de Curso de Graduaçãopor
dc.degree.localSanta Maria, RS, Brasilpor
dc.degree.graduationFísicapor
dc.description.resumoEste trabalho visa uma investigação detalhada das técnicas de medidas empregadas para o estudo dos fenômenos de transporte em estruturas com pelo menos uma dimensão em escala nanométrica, tais como filmes finos(uma dimensão nanométrica), ou granulares(três dimensões nanométricas).por
dc.publisher.unidadeCentro de Ciências Naturais e Exataspor


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