dc.creator | Siqueira, Junara Villanova de | |
dc.date.accessioned | 2021-04-27T12:46:35Z | |
dc.date.available | 2021-04-27T12:46:35Z | |
dc.date.issued | 2019-11-28 | |
dc.identifier.uri | http://repositorio.ufsm.br/handle/1/20706 | |
dc.description.abstract | The Exchange Bias effect (EB) arises in systems with interfacial coupling, generally between
a ferromagnetic (FM) and a antiferromagnetic (AFM) material. The well-known manifestations
of this phenomenon are the field shift in the magnetization curves and the increase in
the coercive field when compared to the uncoupled FM material. In this work, the study of
this interfacial coupling between the FM (NiFe) and the AFM (FeMn) material has been performed
through the structural, magnetic and eletric transport characterization. NiFe/FeMn
films were grown by varying the argon pressure during the deposition of the FM layer and,
subsequently, NiFe/FeMn films were grown by varying the pressure of the both layers during
the deposition. These were made in order to improve the (111) texture of NiFe and
FeMn layers, as well as to improve interface quality and thus to obtain a system with a better
defined uniaxial and unidirectional anisotropies. We have used masks during deposition
in order to define the direction of the electric current with relation to the anistropy direction
in the anisotropic magnetoresistence measurements (AMR). After concluding that the
best Ar pressure value was 1,5 mTorr, two sets of samples were produced, one of them
with varying FM layer thickness and the other one by changing the thickness of the AFM
layers. Samples with the thinner FM layer thickness were also to verify if it would be possible
to observe the rotational hysteresis by AMR. The films were grown on glass substrates
by magnetrom sputtering . The electrical transport measurements were measured in the
system implemented in the Laboratório de Magnetismo e Materiais magnéticos for AMR
measurements as a function of the field angle. By compariparing the experimental data to
calculated ones, we have obtained the magnetic parameters describing the systems. | eng |
dc.description.sponsorship | Coordenação de Aperfeiçoamento de Pessoal de Nível Superior - CAPES | por |
dc.language | por | por |
dc.publisher | Universidade Federal de Santa Maria | por |
dc.rights | Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 International | * |
dc.rights.uri | http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/ | * |
dc.subject | Exchange bias | eng |
dc.subject | Magnetorresistência anisotrópica | por |
dc.subject | Anisotropia | por |
dc.subject | Desalinhamento | por |
dc.subject | Anisotropic magnetoresistence | eng |
dc.subject | Anisotropy | eng |
dc.subject | Misalignment | eng |
dc.title | Estudo do desalinhamento entre os eixos de anisotropia via magnetorresistência anisotrópica em sistemas com exchange bias | por |
dc.title.alternative | Misalignment between the anisotropy axes studied by anisotropic magnetoresistence in exchange bias systems | eng |
dc.type | Tese | por |
dc.description.resumo | O fenômeno de Exchange Bias (EB), geralmente está associado ao acoplamento interfacial
entre uma camada ferromagnética (FM) e uma camada antiferromagnética (AFM). Uma
das manifestações mais bem conhecidas desse fenômeno é o deslocamento em campo do
ciclo de histerese, e a outra é o aumento da coercividade, quando comparada com à do
material FM desacoplado. Neste trabalho, o estudo desse acoplamento interfacial entre
as camadas ferromagnética (NiFe) e antiferromagnética (FeMn) em bicamadas vem sendo
realizado através da caracterização estrutural, magnética e de transporte elétrico. Foram
crescidos filmes de NiFe/FeMn variando a pressão de argônio (Ar) na deposição da camada
FM e, na sequência variando essa pressão na deposição da bicamada. Isso a fim de
obter uma melhora na textura (111) do NiFe e do FeMn, além de uma melhor qualidade da
interface e, dessa forma, obter um sistema com anisotropia uniaxial e unidirecional melhor
definidas. Foram usadas máscaras durante a deposição para definir a direção da corrente
elétrica em relação à direção de anisotropia nas medidas de Magnetorresistência Anisotropica
(AMR). Após a analise do melhor valor da pressão de Ar na deposição (1,5 mTorr),
foram produzidos dois conjuntos de amostras, um variando a espessura da camada FM e
outro variando a espessura da camada AFM. As amostras com espessura da camada FM
mais fina serviram também para tentar verificar se daria para observar a histerese rotacional
(HR) por AMR. Esses filmes foram depositados em substratos de vidro por magnetrom
sputtering. As medidas de transporte elétrico foram realizadas no sistema implantado no
Laboratório de Magnetismo e Materiais Magnéticos (LMMM) para medidas de AMR em
função do ângulo de aplicação do campo. Foi usado um modelo simples para calcular as
curvas de AMR em função do ângulo do campo e, na comparação com as curvas experimentais
obter os parâmetros magnéticos que descrevem o sistema. | por |
dc.contributor.advisor1 | Carara, Marcos André | |
dc.contributor.advisor1Lattes | http://lattes.cnpq.br/1334485128053939 | por |
dc.contributor.advisor-co1 | Rigue, Josué Neroti | |
dc.contributor.referee1 | Gündel, André | |
dc.contributor.referee2 | Andrade, Antonio Marcos Helgueira de | |
dc.contributor.referee3 | Calegari, Eleonir João | |
dc.contributor.referee4 | Beck, Fábio | |
dc.creator.Lattes | http://lattes.cnpq.br/6247242479912175 | por |
dc.publisher.country | Brasil | por |
dc.publisher.department | Física | por |
dc.publisher.initials | UFSM | por |
dc.publisher.program | Programa de Pós-Graduação em Física | por |
dc.subject.cnpq | CNPQ::CIENCIAS EXATAS E DA TERRA::FISICA | por |
dc.publisher.unidade | Centro de Ciências Naturais e Exatas | por |